半導體冷熱臺與各類顯微鏡、光譜儀、掃描電鏡等光學儀器設備聯用，進行變溫下的光學觀察及測試。 實現樣品開放式 / 氣密 / 真空環境下的變溫光學觀察及測試。
半導體冷熱臺采用半導體冷熱控制，配合循壞水散熱，實現從-30~150℃（選型）的控溫?？梢詫崿F變溫光學測試，或者選配探針實現變溫電學測試。
二、儀器主要技術參數：
|
型號 |
CKL120 - 30 |
CKL150 -30 |
|
|
冷熱方式 |
半導體，配低溫循環水 |
||
|
溫控范圍 |
-30~120℃（可定制） |
-30~150℃（可定制） |
|
|
溫度穩定性 |
±0.1（可定制） |
||
|
溫度分辨率 |
0.1℃ |
||
|
升降溫速率 |
0~10℃/min（可調） |
||
|
溫控方式 |
PID |
||
|
溫度傳感器 |
PT100 |
||
|
光路* |
反射光路（可升級為透射光路，可定制） |
||
|
視窗材質* |
石英玻璃（可定制） |
||
|
視窗尺寸* |
Φ25mm（可定制） |
||
|
物鏡工作距離* |
4mm（可定制） |
||
|
透光孔* |
默認無透光孔（可升級透光孔（1.7mm），可定制） |
||
|
樣品臺尺寸* |
45×45mm（可定制） |
||
|
樣品臺材質* |
銅質（可定制） |
||
|
樣品腔高度* |
3mm（可定制） |
||
|
腔室* |
氣密（可升級真空，可定制） |
||
新聞資訊